通过旋转式刷头及二流体,配合DIW可以有效去除晶圆上残留的物理颗粒,主要用于CMP后清洗及过程清洗。
✨ 可兼容多种规格晶圆
✨ 具备刷头自清洁功能
✨ 可选择配置湿进干出活干进干出
✨ 独立翻转模块,可实现晶圆正反面自动翻转并清洗
✨ 在线式药液配比功能
✨ 腔室数量2/4/6/8可灵活配置
✨ 优秀的清洗效果
✨ 多种安全检测,不易产生碎片
适用制程 | Wafer Clean,Mask Clean |
适用尺寸 | 4&6inch,6&8inch,8&12inch |
上料类型 | Open Cassette ,FOUP,SMIF |
化 学 品 | DIW |
颗 粒 物 | ≤10ea @0.3μm,≤500ea @0.2μm |
破 片 率 | ≤0.1‰ |